Equipamiento

El AFM JPK Nanowizard 5 está equipado con un escáner de 100x100x15 um³ en configuración de “scanning by probe”.

Dicha configuración hace que pueda acoplarse a un microscopio óptico Nikon invertido permitiendo así medidas simultáneas (incluyendo fluorescencia) en muestras transparentes.

Además de la caracterización topográfica en aire y líquido en modo contacto, dinámico o basados en espectroscopia de fuerzas (Peakforce tapping®), este equipo posibilita el estudio de la nanomecánica de superficies (QI®) así como la realización de medidas con una velocidad de escaneo de hasta 400 líneas/s en áreas no superiores a 2x2 um².

Por otra parte, el equipo posee un controlador de temperatura (desde temperatura ambiente a 60ºC).

El AFM JPK Nanowizard 2 está también equipado con un escáner de 100x100x15 um³ en configuración de “scanning by probe”.

Permite la caracterización topográfica en modos contacto y dinámico en aire y medio líquido.

El AFM Nanotec Cervantes está equipado con dos escáneres: uno de 70x70x12 um³ y otro de 10x10x2  um³.

Este equipo tiene la posibilidad posee el modo de imagen “jumping” que permite medidas de especímenes débilmente unidos al sustrato.

Por otra parte, incluye modos de medida eléctricos (EFM, KPM, curvas de intensidad voltaje).

El AFM NT-MDT Ntegra Prima está equipado con dos escáneres: uno de 100x100x10 um³ y otro de 1x1x1  um³.

Además de los modos de medida topográfica habituales, este equipo permite también la realización de medidas eléctricas y magnéticas.