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El Laboratorio de Microscopía de Fuerza Atómica (AFM) del IMDEA Nanociencia ofrece un servicio de caracterización estructural, eléctrica o magnética, con resolución nanométrica (unidades de milmillonésima de metro), de superficies de naturaleza muy diversa (metálica, polimérica, biológica...). Las medidas se pueden realizar en modo contacto, dinámico (tapping®) o basado en espectroscopía de fuerzas (jumping®,peak force®, QI®), tanto en aire como en medio líquido. El servicio dispone de un AFM JPK, modelo Nanowizard V, que lleva acoplado un microscopio Nikon invertido, para realizar de forma simultánea medidas ópticas, incluyendo fluorescencia, y de AFM en muestras translúcidas. También permite la caracterización mecánica de superficies así como la realización de medidas con una velocidad de escaneo de 400 líneas/s en áreas no superiores a 2x2 um².  El servicio dispone también de un segundo JPK, modelo Nanowizard 2, que posibilita la caracterización topográfica en modo contacto y dinámico en aire y en líquido. Por otra parte, posee otros dos AFMs que permiten caracterización eléctrica (medidas I-V, Microscopía de fuerza electrostática y de potencial superficial o KPFM) y magnética (MFM). Esta unidad científico-tecnológica ofrece un servicio multidisciplinar y dinámico a grupos de investigación tanto de IMDEA Nanociencia como pertenecientes a otros organismos de investigación o empresas privadas.